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如何鑒別光學(xué)平臺質(zhì)量的優(yōu)劣
隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，各項科學(xué)實驗的高、精、尖要求越來越高，各領(lǐng)域里的實驗儀器精度不斷攀高，所以同時要求實驗的環(huán)境越來越好。在傳統(tǒng)隔振基礎(chǔ)上面，不斷細(xì)化，如今變成了一個能...
2011-08-05 -
ZXHBB系列輕型光學(xué)平臺介紹
ZXHBB系列輕型光學(xué)平臺特點： 鐵磁不銹鋼臺面，特殊的加工工藝保證更高的平面度，散光效果好，不刺眼 可吸磁，配合磁力底座的使用可以在任意位置固定器件 表面陣列M6螺紋孔，孔距25mm，方...
2011-08-03 -
Zygo 斐索干涉儀
主要技術(shù)指標(biāo)：可測元件口徑：Ф10～Ф300 標(biāo)準(zhǔn)鏡精度：PV /20 重復(fù)性：△PV0.020 功能/應(yīng)用范圍：測量光學(xué)元件表面面形及透過波面...
2011-07-29 -
VEECO Digital Instruments NanoMan
The NanoManTM is one of the most advanced and high-end scanning probe microscope (SPM) system commercially available for direct nanoscale manipulation and high-definition nanolithography, allowing accurate and controlled tip positio...
2011-07-29 -
TRIOPTICS Ultra Spherotronic
The Ultra-Spherotronic, the latest addition to our line of automatic spherometers, is the response to increased accuracy requirements in measurement of radii of curvature of optical components. The heart of the new spherometer is a ...
2011-07-29 -
J.A. Woollam M-2000型橢偏儀
極寬的光譜范圍，波長范圍從193nm至1700nm 390-720個波長同時測量 大范圍的測量角度，手動角45-90o，自動角40-90o，因此該橢偏儀的 測量角度均可超過45 融合了該公司的專利技術(shù)旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償技術(shù)，在...
2011-07-29 -
Zygo NewView5020 表面輪廓儀
Technical Performance Vertical (Z) Scan Range: 5 mm Vertical (Z) Scan Rate: 10 mm/sec Vertical (Z) Resolution: 0.1 nm Lateral (X, Y) Resolution Range: 0.45 11.8 mm Field of View Range: 0.04 17.5 mm; larger areas can be imaged with f...
2011-07-29 -
PerKin Elmer Lambda 950 分光光度計
PERKIN ELMER公司在集多年先進(jìn)經(jīng)驗制造，代表了目前世界此類儀器最高水平的雙光束、雙單色器系統(tǒng)比率式紫外/可見/近紅外分光光度計。 波長范圍：Lambda900為1753300nm 分光系統(tǒng)采用最先進(jìn)的CSS...
2011-07-29
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