長焦距、大口徑雜光系數(shù)測試設(shè)備主要用途是測試大口徑相機(jī)光學(xué)系統(tǒng)的雜光系數(shù)。設(shè)備主要由目標(biāo)模擬系統(tǒng)、載物調(diào)整系統(tǒng)、目標(biāo)探測系統(tǒng)、控制 采集軟件以及控制柜五部分組成。該設(shè)備在繼承傳統(tǒng)面源法(俗稱黑斑法)測量雜散光的原理的基礎(chǔ)上,進(jìn)行了創(chuàng)新性的改進(jìn):采用大口徑離軸拋物面鏡與積分球組 合來實(shí)現(xiàn)出射光為2л立體角的無窮遠(yuǎn)目標(biāo)的模擬,避免了大口徑透射式光學(xué)系統(tǒng)材料引入的雜光誤差;為了保證目標(biāo)模擬器中的黑斑與白斑的對比度達(dá)到 1:1000的要求,將以往牛角塞結(jié)構(gòu)形式改成一種新型內(nèi)腔室光陷阱結(jié)構(gòu),可實(shí)現(xiàn)高對比度的目標(biāo)模擬,最終測試目標(biāo)對比度達(dá)到1:2000;另外在弱光探 測器標(biāo)定方面采用強(qiáng)光光源和兩個積分球組合分級的方法,解決了大動態(tài)范圍弱光探測器標(biāo)定的難題,實(shí)現(xiàn)了3000倍動態(tài)范圍線性度優(yōu)于2%的弱光探測器的標(biāo) 定,最終設(shè)備雜散光測試重復(fù)誤差優(yōu)于0.3%。
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