自由電子激光器可以提供具有成本效益的單光源選擇,為整個集成電路制造項目供電。
EUV光刻技術(shù)已得到廣泛認可,它很有可能將接替193nm浸沒式光刻技術(shù),用以摹制集成電路加工中最關(guān)鍵的幾層。然而,到目前為止,激光等離子體(LPP)光源的緩慢進展延誤了將EUV技術(shù)嵌入大批量加工(HVM)。直到最近,LPP光源功率和可靠性方面的進步才使它們能夠用于下一代技術(shù)研發(fā)項目。目前正設(shè)想用EUV光刻技術(shù)支持7nm技術(shù)節(jié)點的有限數(shù)量曝光層的加工。然而,EUV光刻技術(shù)的歷史證明,如果不能根據(jù)替代圖案化技術(shù)來調(diào)整模具的經(jīng)濟性,就有可能使嵌入目標繼續(xù)溜走。此外,作為EUV光刻技術(shù)演變的目標技術(shù),實現(xiàn)必要的分辨率、印刷特征粗糙度和生產(chǎn)率所需的光源功率將增加。這種不斷演變的光源需求促使光源機構(gòu)考慮推動LPP技術(shù)超越其250W的現(xiàn)有目標,或者考慮甚至更高功率的替代技術(shù),如自由電子激光器(FEL)。這些設(shè)備有能力用單個光源為制造設(shè)備的整個EUV光刻機組供電,滿足其千瓦能級需求。
目前,F(xiàn)EL主要被科學(xué)界用作光譜掃描光源,該光源的高亮度和一致性由于原始平均功率。然而,以往的項目,比如杰斐遜國家實驗室的IR演示,它們主要關(guān)注擴展加速器和FEL技術(shù)以獲得純功率(用于工業(yè)和軍事應(yīng)用)的潛力。對于功率擴展有幾項關(guān)鍵的使能技術(shù)。這些技術(shù)包括高亮度電子光源、超導(dǎo)加速器和電子束保質(zhì)。每項技術(shù)都處于研發(fā)之中,以用于下一代短脈沖、高亮度X射線光源。然而,也有機會用同一項研究為光刻技術(shù)研發(fā)高平均功率的EUV FEL(圖1)。
圖1. 在自由電子激光器的波蕩器內(nèi)輻射EUV光的電子束團插圖。N和S代表磁極,k是電子和輻射束的傳播矢量。
到目前為止,大部分將FEL用于EUV光刻技術(shù)的研究還集中在生成500–1000W(如,每臺掃描儀功率需求的預(yù)測最大值)的可行性和基礎(chǔ)設(shè)施設(shè)計上。給定加速器設(shè)施的實際成本,過去兩年我們一直致力于設(shè)計和研發(fā)一種FEL,以便能生成幾萬瓦的功率。這種設(shè)備能夠為制造設(shè)備的整個EUV光刻機組供電,并可能因此而帶來超越等效LPP光源的顯著經(jīng)濟優(yōu)勢。
雖然FEL設(shè)施的初始資本投資可能相當于或大于被拿來作對比的LPP光源裝置的總體成本,但FEL擁有的優(yōu)勢每年能省下估計高達1億美元的成本。相比LPP光源,F(xiàn)EL可通過降低公用事業(yè)和燃氣供應(yīng)需求而節(jié)省成本。此外,F(xiàn)EL還能消除對錫控制/管理或透鏡修整的需求。相反,需要專門處理潛在的活性材料(取決于加速器的設(shè)計)。此外,我們發(fā)現(xiàn)通過增加電子束電荷或重復(fù)率,基于加速器的光源更易被擴展至更高功率。這種光源結(jié)構(gòu)也很容易適應(yīng)較短波長,這可以通過增加電子束的能量或改變波蕩器的結(jié)構(gòu)來實現(xiàn)。摩爾定律將因此而得到進一步延伸,不需要再進行大量的光源-掃描儀調(diào)整。然而,具有更直接意義的是FEL免去了對任何(錫)碎片減緩的需求。
推動向光刻技術(shù)的高功率EUV FEL創(chuàng)新需要我們縮小潛在的配置,如發(fā)射結(jié)構(gòu)、設(shè)備結(jié)構(gòu)、能源/FEL效率以及余能。最近,我們專注于發(fā)射結(jié)構(gòu)的選擇工作。根據(jù)作為內(nèi)在加速器波動的函數(shù)的光子通量、帶寬和中心波長穩(wěn)定性,我們評估了自放大自發(fā)發(fā)射、自激注入和再生放大器如何影響光刻性能。雖然科學(xué)用戶設(shè)施能通過增加數(shù)據(jù)采集時間吸收這些波動,但在HVM環(huán)境中這并不現(xiàn)實,如在單光源被用來為多個工具供電的環(huán)境中(圖2)。因此,我們研發(fā)出一種評分卡,它提供衡量每個技術(shù)的準備狀態(tài)與加工需求的直接評估測量結(jié)果。
圖2. 可能與半導(dǎo)體制造設(shè)備整合的自由電子激光器的示意圖。
除了選擇發(fā)射結(jié)構(gòu),我們還需要研究設(shè)備的能源和活性材料的生產(chǎn)。能效的主要考慮因素在于是否需要(或者甚至可能)在FEL波蕩器的輻射發(fā)射后回收電子束能量。也可以使波蕩器的一頭變細以實現(xiàn)到EUV的最大轉(zhuǎn)化?;蛘?,事實上有可能將兩種技術(shù)結(jié)合。再加上能效問題,即在加速器的電子垃圾堆生成活性材料。如果沒有能量回收和激進的變細,就需要兆瓦級的電子束并會產(chǎn)生非同一般的輻射危害。因此,我們需要解決一個關(guān)鍵問題,即如何具體加工FEL以使其達到最大經(jīng)濟優(yōu)勢,同時保持近100%的系統(tǒng)可用性和操作。
自2000年建成首個EUV和硬X射線FEL以來,通過在全世界建造多個大規(guī)模、耗資的設(shè)施,加速器和FEL技術(shù)已迅速擴展。這些努力成果扎根于粒子與核物理等成熟領(lǐng)域,以及相關(guān)的知識庫和專家群體。利用這些優(yōu)勢驅(qū)動EUV光刻領(lǐng)域的摩爾定律將,使其成為未來諸多技術(shù)的關(guān)鍵使能技術(shù),但這種推動應(yīng)有所側(cè)重,如必須盡快開啟積極的研究與研發(fā)項目。作為這些工作的一部分,我們將繼續(xù)評估將高功率FEL光源與制造設(shè)備集成的復(fù)雜度。