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      安捷倫科技公司（NYSE：A）日前宣布推出 67 GHz PNA-X 非線性矢量網(wǎng)絡分析儀，進一步擴展了其屢獲殊榮的 PNA-X 系列。全新的 67-GHz 相位參考校準標準件也已上市，可配置為與 67-GHz PNA-X NVNA 結合使用。
        借助這個硬件，設計人員不僅能夠在高達 67 GHz 的頻率上輕松、精確地完成元器件表征和建模，還能夠測量 X 參數(shù)，從而在極高頻率和寬帶寬范圍內對線性和非線性元器件特性進行精確建模。
         在 10 月 11 日至 13 日于英國曼徹斯特市曼徹斯特中心舉行的歐洲微波周（G301 展位）上，安捷倫將展示全新 67-GHz PNA-X NVNA、相位參考校準標準件及其它無線通信產品與服務。
       Agilent NVNA 及先進設計系統(tǒng)軟件是業(yè)界首個設計非線性元器件的測量和仿真環(huán)境，能夠對非線性器件的特性進行最深入的分析，因而對于研究最新射頻技術的科學家和設計當今高性能有源器件的工程師尤其有用。用戶使用 NVNA 可以測量 X 參數(shù)。X 參數(shù)是確定性高頻率設計非線性網(wǎng)絡參數(shù)的一個新類別，可用于表征元器件的線性和非線性特性。
全新 67-GHz NVNA 可使工程師在極寬的頻率帶寬內進行高頻非線性測量。業(yè)界首款 67-GHz 相位參考校準標準件與 NVNA 結合使用，能夠在高達 67 GHz 的頻率范圍內進行精確的非線性測量,測量結果可溯源到美國國家標準與技術研究院（NIST）的標準。相位參考校準件使用一定頻率范圍內已知的可溯源到 NIST的相位關系生成 10 MHz ～ 67 GHz 的梳狀波信號，對 NVNA 進行校準，NVNA 因此可以在高達 67 GHz 的頻率范圍內測量器件的非線性特性。
這一功能可實現(xiàn)在高達 67 GHz 的頻率范圍內精確測量和預測諧波與失真，從而幫助用戶對有源元器件（例如發(fā)射和接收模塊）進行表征和 X 參數(shù)建模。T/R 模塊通常是在 20-GHz 基頻范圍內工作，包含功率放大器、低噪聲放大器和混頻器。
在表征模塊的非線性特性時，需要在三次諧波（60 GHz）上進行測量，一般通過變頻器將 65-GHz 信號下變頻為 500 MHz 中頻信號。通過使用 67-GHz NVNA，工程師能夠對下變頻信號的幅度、交叉頻率相位關系以及在寬頻率范圍內產生的失真進行精確表征。他們還可使用 X 參數(shù)在安捷倫先進設計系統(tǒng)（提供完整的系統(tǒng)設計能力）中對高頻上（下）變頻器和低噪聲放大器進行測量和建模。
          安捷倫副總裁兼元器件測試事業(yè)部總經理 Gregg Peters 表示：“在設計用于航空航天與國防應用的線性系統(tǒng)解決方案時，精確測量和降低高頻元器件的非線性特性尤為重要。安捷倫 67-GHz 相位參考校準標準件與 NVNA 提供元器件表征能力和 X 參數(shù)，能夠快速輕松、極其精確地對非線性特性進行測量和建模。NVNA 具有全面的匹配校正、精確的測量幅度以及與交叉頻率相關的相位信息，從而為非線性元器件特性的精確測量和深入分析確立了新的標準。”