如果真空紫外激光可以聚焦成一個小束點,將可用于研究介觀材料和結(jié)構(gòu),并使制造納米物體具有更加的精度。
為了實現(xiàn)這一目標,中國科學(xué)家發(fā)明了一種177納米的VUV激光系統(tǒng),可以在長焦距處獲得亞微米焦點。該系統(tǒng)可以重新配置用于低成本的角度分辨光電發(fā)射光譜,并可能推動凝聚態(tài)物理研究。
在《光科學(xué)與應(yīng)用》(LightScience&Applications)發(fā)表的一項研究成果顯示,研究人員利用無球像差的帶板開發(fā)了一種177nmVUV激光掃描光電發(fā)射顯微鏡系統(tǒng),該系統(tǒng)在長焦距(——45mm)下具有<1μm的焦斑。
基于這種顯微鏡,他們還建立了一個離軸熒光檢測平臺,在揭示材料的細微特征方面表現(xiàn)出優(yōu)于傳統(tǒng)激光系統(tǒng)的能力。
與目前用于ARPES的具有空間分辨率的DUV激光源相比,177nmVUV激光源可以幫助ARPES測量覆蓋更大的動量空間,具有更好的能量分辨率。
該VUV激光系統(tǒng)具有超長焦距(——45mm)、亞微米空間分辨率(——760nm)、超高能量分辨率(——0.3meV)和超高亮度(——355MWm-2)??芍苯討?yīng)用于光電發(fā)射電子顯微鏡(PEEM)、角度分辨光電子能譜儀(ARPES)、深紫外激光拉曼能譜儀等科研儀器。
目前,該系統(tǒng)已與上海理工大學(xué)的ARPES連接,揭示了各種新型量子材料的精細能帶特征,如準一維拓撲超導(dǎo)體TaSe3、磁性拓撲絕緣體(MnBi2Te4)(Bi2Te3)m族等。
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