三,產(chǎn)品的幾個(gè)關(guān)鍵考驗(yàn)點(diǎn):
激光粒度儀有幾個(gè)關(guān)鍵考驗(yàn)點(diǎn)
(1)激光器選擇:激光粒度儀的重要部件之一,主要有HE-NE激光器和半導(dǎo)體激光器兩種,其中HE-NE激光器的各項(xiàng)性能均優(yōu)于半導(dǎo)體激光器,且本錢也遠(yuǎn)高于半導(dǎo)體激光器,半導(dǎo)體激光器單向性差的題目,對測試結(jié)果的穩(wěn)定性影響很大。因此推薦用戶選擇HE-NE激光器。
(2)光電探測器:國內(nèi)產(chǎn)品采用的光電探測器的種類大同小異,一般就是半環(huán)式、點(diǎn)陣式等,半環(huán)式的上風(fēng)是能夠以較少的通道數(shù)達(dá)到很高的探測精度。而且在出現(xiàn)斷環(huán)時(shí)可以臨時(shí)采取并環(huán)操縱,對測試結(jié)果影響很小。點(diǎn)陣式屬于比較老的探測器類型,現(xiàn)在用的比較少。
(3)儀器結(jié)構(gòu)題目:主要分為整體式和分體式,整體式就是將分散系統(tǒng)和測試系統(tǒng)整合為一體,協(xié)同操縱,分體式則是分散系統(tǒng)獨(dú)立于測試系統(tǒng),測試者需要先操縱分散系統(tǒng),將樣品分散好再將分散好的樣品通過管道導(dǎo)進(jìn)測試系統(tǒng)進(jìn)行測試。這樣的缺點(diǎn)是協(xié)同操縱性不好,比較重的顆粒輕易在管道中沉淀,清洗不便且對測試結(jié)果有一定影響,現(xiàn)在整體式結(jié)構(gòu)的儀器是發(fā)展方向,進(jìn)口產(chǎn)品大都采用整體式結(jié)構(gòu),國內(nèi)的產(chǎn)品也慢慢在向整體式結(jié)構(gòu)發(fā)展。
(4)光路設(shè)計(jì)題目:光路設(shè)計(jì)是激光粒度儀研制的基礎(chǔ),進(jìn)口產(chǎn)品的上風(fēng)不但在制造工藝上,光路的設(shè)計(jì)水平也是技術(shù)先進(jìn)的標(biāo)志,國內(nèi)的廠家現(xiàn)在大都采用簡單的平行光路設(shè)計(jì),據(jù)了解濟(jì)南微納公司推出的產(chǎn)品中采用了匯聚光傅立葉變換光路。這種光路是一種比較先進(jìn)的光路,能夠獲得更寬的散射角,在進(jìn)步測試精度方面有一定的上風(fēng)。
四,需要了解的顆粒測試基礎(chǔ)知識
實(shí)際測試中,正確性是相對的,重復(fù)性是盡對的:在實(shí)際顆粒測試中,激光粒度儀測試的結(jié)果我們無法評價(jià)其“正確”或“不正確”,由于樣品都是不規(guī)則外形體,與其對比的測試結(jié)果也只是另外一種儀器測試所得,因此,我們只能說A儀器的測試結(jié)果相對于B儀器來說是正確的,而不能說A儀器測試結(jié)果就是正確或不正確,很多測試職員總是喜歡與馬爾文的來對比,只要符合就是正確,不符合就是不正確,這實(shí)在是個(gè)誤區(qū)。考量儀器好壞的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)在是重復(fù)性,對某一種樣品分別取樣測試,假如前一次和后一次測試結(jié)果差異小那說明儀器是穩(wěn)定的,重復(fù)性好的,假如差異大那就說明這個(gè)儀器的測試效果不好。
五,實(shí)地測試
最好在選擇前寄送樣品實(shí)地測試,由于樣品的屬性千差萬別,有的儀器并非全能,對某些樣品可能偏差比較大。
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