高并行測(cè)試不能損害溫度性能
德國(guó)羅森海姆,2012年12月: 面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商,設(shè)計(jì)和制造測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,日前宣布其MT9510 x16在一家批量生產(chǎn)基地成功證明其卓越溫控精度(+/- 2.0°C)。
Multitest始終用最嚴(yán)格的測(cè)量方法來控制溫控精度——測(cè)試數(shù)據(jù)代表在整個(gè)測(cè)試時(shí)間內(nèi)對(duì)受測(cè)器件(DUT)測(cè)定的動(dòng)態(tài)溫度精度。在此情況下,該測(cè)量適于在三分鐘測(cè)試時(shí)間內(nèi)對(duì)QFN 4x4和QFN 5x5封裝進(jìn)行高低溫測(cè)試。
MT9510 x16確保即使對(duì)16試驗(yàn)位測(cè)試來說,器件亦可真正在規(guī)定溫度條件下完全接受測(cè)試。 面臨的挑戰(zhàn)是如何讓器件保持溫度浸潤(rùn)區(qū)的預(yù)浸潤(rùn)溫度,即使在器件被送入測(cè)試區(qū)和被測(cè)試時(shí)。這只有在測(cè)試期間對(duì)測(cè)試區(qū)進(jìn)行先進(jìn)溫度控制的條件下才可能實(shí)現(xiàn)。
基于其MT9510 XP的成熟經(jīng)驗(yàn),Multitest通過完美融合高級(jí)的機(jī)械設(shè)計(jì)功能和領(lǐng)先的溫控流程,實(shí)現(xiàn)了適合高平行測(cè)試的高可靠性溫度性能。
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