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自1972年推出第一款觸發(fā)式坐標(biāo)測量機測頭以來，雷尼紹為坐標(biāo)測量領(lǐng)域帶來了一場翻天覆地的革命，從此一直引領(lǐng)著全球工業(yè)計量技術(shù)的發(fā)展，始終如一地為業(yè)界推出創(chuàng)新科技。其中，由雷尼紹獨立研發(fā)和生產(chǎn)的REVO^?五軸多類型傳感器系統(tǒng)，以五軸技術(shù)提升測量能力，推動了行業(yè)測量技術(shù)的飛躍式發(fā)展。

REVO五軸測量系統(tǒng)能夠在同一臺坐標(biāo)測量機 (CMM) 上執(zhí)行高性能掃描測量、非接觸式測量和表面粗糙度分析。該系統(tǒng)采用同步運動和五軸聯(lián)動測量技術(shù)，極大降低了坐標(biāo)測量機在超高測量速度下的動態(tài)誤差。這是通過在坐標(biāo)測量機做慢速線性運動的同時，由REVO-2測座完成要求的快速運動來實現(xiàn)的。采用靈活的端部感應(yīng)技術(shù)進一步增強了系統(tǒng)的精度和性能。可拆卸的測頭系統(tǒng)配用自動交換架，提高了系統(tǒng)靈活性。

REVO五軸測量系統(tǒng)可安裝在新坐標(biāo)測量機上，也可作為獲得認證的升級選件安裝在現(xiàn)有坐標(biāo)測量機上。

對傳統(tǒng)的坐標(biāo)測量機用測量系統(tǒng)進行標(biāo)定需要花費大量時間，而這些時間本可用來測量工件。REVO-2采用的標(biāo)定方法是使用安裝在工作臺上的標(biāo)準球做整體推論校正，這種方法簡單實用，可測定測座和測頭的實際幾何尺寸，通過一次操作即可在任意位置進行測量。

如果坐標(biāo)測量機僅用于測量單個或有限數(shù)量的工件，通?？赡軙褂?0個測座方向。對這些位置進行標(biāo)定可能需要30分鐘左右。REVO-2僅需要20分鐘即可完成。

如果坐標(biāo)測量機用于測量多個工件，則通?？赡軙褂?0個測座方向，這將標(biāo)定時間延長到大約2小時。而REVO-2僅需要20分鐘即可完成。

測座碰觸

在需要測量位置和尺寸的被測特征上，可以利用REVO驅(qū)動系統(tǒng)的性能或結(jié)合坐標(biāo)測量機 (CMM) 的XYZ軸來采集離散點。REVO坐標(biāo)測量機系統(tǒng)的測座碰觸功能能夠滿足測量點少但測量速度高的要求。

圓掃描

圓掃描是定義的程序，通過每秒最多采集4,000個數(shù)據(jù)點來掃描圓形特征。REVO通過定義預(yù)期路徑，利用其兩軸驅(qū)動系統(tǒng)跟蹤表面，并盡可能降低對坐標(biāo)測量機三個軸移動精度的影響。圓掃描非常適用于內(nèi)孔，例如形狀至關(guān)重要的發(fā)動機缸體。

圓柱掃描

圓柱掃描是沿圓柱體或圓錐體內(nèi)側(cè)或外側(cè)的軸移動。在掃描過程中，圓柱掃描以每轉(zhuǎn)相等的長度沿軸橫向移動。由此形成螺旋路徑，在整個定義的長度上采集大數(shù)據(jù)點集。

墊片掃描

墊片掃描非常適用于在掃描操作過程中跟蹤不一致的路徑。通過沿著預(yù)期路徑定義目標(biāo)點，REVO將在采集大數(shù)據(jù)點集時混合點之間的路徑，從而盡可能減少坐標(biāo)測量機的運動。墊片掃描在完全五軸運動控制下進行。

滑行掃描 — 平面

利用REVO驅(qū)動系統(tǒng)來回掃過平面來采集數(shù)據(jù)點，同時坐標(biāo)測量機驅(qū)動系統(tǒng)在恒定速度下沿著單一矢量方向移動。這個過程盡可能降低了坐標(biāo)測量機結(jié)構(gòu)在高速掃描表面時固有的不準確性。

滑行掃描 — 曲面

在滑行掃描過程中，REVO驅(qū)動系統(tǒng)通過控制測針的接觸壓力來適應(yīng)變化的表面形狀。坐標(biāo)測量機的驅(qū)動方向一致，因而盡可能降低了坐標(biāo)測量機結(jié)構(gòu)固有的不準確性。因此，可在采集大數(shù)據(jù)點集時提供表面跟蹤能力，非常適用于測量葉片型面。

截面掃描 — 

繞葉片截面執(zhí)行區(qū)域帶狀旋轉(zhuǎn)掃描

使用測量軟件和REVO的截面掃描功能可檢測葉片截面或其他外部形狀。這種掃描技術(shù)可以通過CAD模型定義一個截面，實現(xiàn)一次完成測量作業(yè)。利用REVO的無級定位能力，坐標(biāo)測量機環(huán)繞工件移動，同時REVO控制碰觸位置。

REVO五軸測量系統(tǒng)幫助坐標(biāo)測量機充分提升測量效率，同時保持極高的系統(tǒng)精度。