芯片作為先進(jìn)制造工藝水平的代表之一,在近幾年越發(fā)受到大眾矚目,從愈演愈烈的國際芯片之戰(zhàn)便可知其競爭的激烈程度。 那么,芯片跟激光到底有什么關(guān)系呢?
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芯片測試工藝中的探針卡
一般來說,一個合格的芯片都必須經(jīng)歷設(shè)計(jì)、制作、測試和封裝這幾道工藝。今天我們就來說說它的測試工藝,雖然它不像前兩道工藝那樣廣受關(guān)注,但在芯片產(chǎn)業(yè)里它是一個不可缺少的重要環(huán)節(jié)。
在芯片測試環(huán)節(jié)中扮演重要角色的——探 針卡 ,就是影響測試的質(zhì)量的關(guān)鍵。作為連接自動測試儀與待測器件的接口,探針卡上會有很多細(xì)密的金屬探針,通過探針和芯片電極進(jìn)行物理或電學(xué)接觸,然后運(yùn)行測試程序才能得以檢驗(yàn)芯片合格與否。
這其中,探針卡上的精密小孔又尤為重要,為了降低成本和更為靈活的利用探針卡,我們通常會在探針卡上加工出極其微小的孔以方便固定探針。
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探針卡上的微細(xì)方孔
隨著半導(dǎo)體制成的快速進(jìn)展,芯片越來越小,電路越來越細(xì),對測試的要求越來越高,傳統(tǒng)探針卡已經(jīng)面臨測試極限。為滿足高積密度測試,我們必須不斷縮小探針卡上的孔徑和探針間距,同樣大小的面積內(nèi)探針孔間距越小,可容納的探針數(shù)量就越多。
那么問題來了,多大的孔才合適呢?什么樣的孔才能滿足要求? 如今應(yīng)用先進(jìn)制造技術(shù), 探針卡上的孔徑已經(jīng)可以從120um縮小到50um,甚至更小 ,這是什么概念呢?普通成年人的頭發(fā)絲直徑約為70um,也就是說孔徑竟然比頭發(fā)絲還要細(xì)!
除了進(jìn)一步縮小孔徑外的另一個方法就是,改變孔的形狀,從最初的圓形孔逐漸演變成矩形或方形孔。 這樣做的好處不僅僅是提高利用率(例如可以容納1960個50um圓孔的探針卡,若將孔改為方形則可容納2500個)降低生產(chǎn)成本,同時也可以降低接觸壓力,使探針的壽命得以延長。
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如何加工這些微細(xì)方孔
無論技藝再怎么高超,傳統(tǒng)的機(jī)械鉆孔無論是從質(zhì)量還是效率上顯然無法滿足以上這類微孔加工的極致要求。 那么 ,這樣 精 細(xì) 的方 孔究 竟是 怎么做出來的呢?
GF加工方案提出了傳統(tǒng)工藝無法達(dá)成的創(chuàng)新性解決方案:激光微細(xì)打孔!
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使用GF加工方案先進(jìn)的激光微細(xì)加工產(chǎn)品ML-5,可以通過無熱量、無接觸的飛秒激光快速而精確的去除材料,并且不造成任何熱損傷或機(jī)械損傷,更無需再進(jìn)行其它后處理。2秒之內(nèi)即可輕松獲得一個35x35um的正方形探針孔。
方孔大?。?5μm x 35μm
圓角半徑:3.5μm
壁厚:6.5μm
加工時間:<2秒/孔
并且在整個加工過程中始終對微小細(xì)節(jié)保持可重復(fù)的高精度和一致性,滿足每一個孔的嚴(yán)格錐度要求(下圖可見,微孔的入口與出口尺寸差異在±1um以內(nèi)):
最后,您不妨大膽的猜一猜,全球最大的探針卡工廠使用的哪款微孔加工設(shè)備呢?
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