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半導(dǎo)體/PCB

Multitest推出elvin測試座綜合教程

邵火 來源:星之球科技2012-03-29 我要評論(0 )   

2012年3月---為全球(集成元件制造商(IDM)和最終測試分包商,提供設(shè)計和制造最終測試分選機、測試座和負載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,現(xiàn)宣布推出Kelvin教程。 若要低...

    2012年3月---為全球(集成元件制造商(IDM)和最終測試分包商,提供設(shè)計和制造最終測試分選機、測試座和負載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,現(xiàn)宣布推出Kelvin教程。 若要低成本測試其測量值相對于接觸電阻值很敏感的元件,Kelvin測試座是不可或缺的。真正的Kelvin測試座完全消除了直流電參數(shù)測試的接觸電阻誤差。

    將這種卓越的電氣解決方案應(yīng)用于集成電路測試是一個機械挑戰(zhàn)。需要和兩個電氣絕緣且機械結(jié)構(gòu)獨立的探針相連接的測試點是微小并緊密排列的(并且正變得更小更緊密)。Kelvin接觸的成本最初是較高的。如果部署Kelvin測試座,大批量生產(chǎn)測試的成本將顯著降低。

    市場上現(xiàn)有多款Kelvin測試座,它們來自不同供應(yīng)商并采用不同技術(shù)。應(yīng)當(dāng)仔細甄別。

    Multitest的Kelvin教程對何為Kelvin連接方式以及何時需要Kelvin接觸方式進行了說明。此外,該教程還提供一些實用建議和示例。

 

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